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光學干涉測量系統的物理光學仿真

LightTrans 講座
 

SPIE Photonics West 2019 大會
 

光學干涉測量系統的物理光學仿真
 

SPIE OPTO – 第一場： 光子儀器的設計、改進及制造
 

時間：2019年2月5日│ 14:20 ─ 14:40
 

Site Zhang, Rui Shi, Christian Hellmann, and Frank Wyrowski
 

基于干涉儀的現代光學測量技術在諸多領域發揮著重要的作用，并往往包含多種類型元件。而改善系統性能或豐富系統功能的新方法，通常會產生系統分析和組裝的問題。為解決這一問題，我們提出一種基于物理光學的仿真途徑。該方法從光源的電磁表征出發，可以進行相干和偏振的模擬。我們演示了如何在選定的經典干涉測量裝置中集成新組件（從顯微鏡物鏡到衍射、微納米結構），并測量所得系統是否滿足功能需求。

 

了解更多信息，請發送郵件至：support@infotek.com.cn / support@infocrops.com

網址：http://www.hock-cheong.com / http://www.honglun-seminary.com