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利用邁克爾遜干涉儀和傅里葉變換光譜進(jìn)行相干測(cè)量

摘要

眾所周知，在干涉儀中，條紋對(duì)比度可能取決于光源的相干性。例如，在配有一定帶寬源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨著兩臂之間的光程差的增加而減小。通過(guò)測(cè)量可移動(dòng)反射鏡在不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得出光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類(lèi)光學(xué)裝置。

 

 

建模任務(wù) 

 

 

非序列追跡

 

 

探測(cè)器附加組件

 

 

參數(shù)運(yùn)行

 

 

總結(jié)-組件…

 

 

 

橫向干涉條紋–50 nm帶寬

 

 

橫向干涉條紋–100 nm帶寬

 

 

軸上點(diǎn)的輻射通量測(cè)量

 

 

VirtualLab Fusion 技術(shù)

 

文件信息
 

 

更多閱覽
-基于激光的邁克爾遜干涉儀與干涉條紋探測(cè)

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-用于光學(xué)測(cè)試的斐索干涉儀