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馬赫-曾德爾干涉儀

時間:2019-05-28 10:37來源:訊技光電作者: 技術(shù)部點擊:次打印

摘要

干涉測量是一種光學(xué)計量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓，缺陷，機械和高精度熱變形等領(lǐng)域的測量。作為一個典型的例程，在非序列場追跡的幫助下，我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀，本案例清楚地展示了光學(xué)元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。

建模任務(wù)

元件傾斜引起的干涉條紋

元件移位引起的干涉條紋

文件信息

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